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IBX选择性氧化脱除芳胺酰胺中N端芳基

有机合成化学中,通过选择性地断裂芳胺酰胺中N端芳基,可以得到更高价值的合成砌块,发展此方法还可以拓展芳基作为保护基使用。但是因为芳胺酰胺中的芳基C—N键解离能(104 kcal/mol)高于羰基C—N键(95kcal/mol),致使酰胺受到亲核试剂进攻时(如酰胺的水解)总是羰基C—N键先于芳基C—N键断裂。已有文献报道的芳基C—N键断裂反应需要通过Ni催化剂、CAN(硝酸铈铵)实现,或者是局限于特定底物,如芳基肼或二甲胺芳基化合物:

近期,河南师范大学张志国等人(J.Org. Chem.,2018,83,1369–1376)发现在HFIP/H2O (HFIP:六氟异丙醇) 混合溶剂中,使用IBX室温下即可高选择性地氧化断裂芳基C—N键,极大地拓展了此类反应的应用范围,且反应条件温和,试剂易得,无重金属参与,底物适用性广(图1)。

图1 底物适用性研究


作者以良好的收率合成了一系列使用其他方法不易制备的伯酰胺(图2)。

图2 断裂芳基C—N键的应用


手性原料(S)-1m’在该条件下可以以69%的转化率,81%的收率得到手性中心不受影响的产物(S)-2m’


结合机理研究及文献报道,作者推测反应的机理如下:


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