JACS: MOF团簇缺陷可控合成

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第一兼通讯作者:冯潇

共同通讯作者:Pascal Van Der Voort
通讯单位:大连理工大学,Gent University


研究内容:

缺陷工程用于MOF的性能调整引起了广泛关注。在MOF中通常会观察到两种缺陷配体缺陷和团簇缺陷。目前,这两种缺陷难以被区分,使MOF的性质与特定类型缺陷的关系难以确定。该工作提出了一种新颖且易于合成的策略,用于在酸稳定的MOF中创建团簇缺陷。首先,合成了双金属Zn/Zr UiO-66材料。用酸刻蚀后,选择性去除酸不稳定的Zn节点,生成只有节点缺陷的UiO-66材料(图 1)。在使用13ZnZr比例的样品中,其具有类型单一且有序的团簇缺陷UiO-66材料。此外,此类缺陷对开环反应和CO2吸附与分离都有积极影响。

 

要点一:

通过双金属MOF不同团簇节点的稳定性控制合成单一缺陷类型的UiO-66,其只有团簇缺陷,缺陷结构表现出长程有序reo拓扑。

要点二:

通过iDPC-STEM对团簇缺陷形成可视化观察(图2),同时XRD特征衍射峰,热重分解对平均化配体缺乏分析及其表面积与孔径的变化确定团簇缺陷生成。

要点三:

探索缺陷类型,即团簇缺陷,在催化与吸附性能的影响。


1. fcu拓扑UiO-66(左)与reo拓扑UiO-66(右)结构示意图。

2. 不同比例(Zn, Zr) UiO-66 fcu UiO-66reo UiO-66的 PXRD图(UiO-66-XX代表ZnZr摩尔比)。插图是在低角度(3-6.5度)衍射峰。


3. 不同比例(Zn, Zr) UiO-66 TGA图。


4. UiO-66UiO-66-0.33Ar吸附曲线和孔径分布。


 5. 1. UiO-66-0.33100方向观察iDPC-STEM图像。插图中绿色框表现完美结构fcu UiO-66示意图和黄色框表示团簇结构缺陷reo UiO-66示意图。

 

  6. 未被酸刻蚀UiO-66-0.33前体,UiO-66-0.33前体水洗和 UiO-66-0.33的(aZr K-edge和(bZn K-edge XANEA谱和(cZr K-edgedZr K-edgeEXAFS谱,以氧化物作为参考。


参考文献:

Xiao Feng*, Himanshu Sekhar Jena, Chidharth Krishnaraj, Daniel Arenas-Esteban, Karen Leus, Guangbo Wang, Jiamin Sun, Martina Rüscher, Janis Timoshenko, Beatriz Roldan Cuenya, Sara Bals, and Pascal Van Der Voort*. Creation of Exclusive Artificial Cluster Defects by Selective Metal Removal in the (Zn, Zr) Mixed-Metal UiO-66. J. Am. Chem. Soc. 2021, DOI: 10.1021/jacs.1c05357.



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