第一作者：Si Li

通讯作者：臧双全

通讯单位：郑州大学

研究内容：

四对缺陷晶体表现出全色发射和圆偏振发光 (CPL)，具有高发光不对称因子 (g_lum)值(～3 ×10^–3) 是通过将染料分子掺杂到手性结晶金属簇基基质中而成功获得的。染料分子充当缺陷诱导剂并赋予晶体荧光。研究表明，静电相互作用提供了产生缺陷晶体的主要动力，手性空间的限制作用和缺陷晶体中的弱相互作用使得手性从本征手性主体银（I）簇有效转移到非手性发光掺杂剂并最终诱导它们发出明亮的 CPL。这种缺陷工程策略为晶体簇基材料的多功能功能开辟了一条新途径。

 

要点一：

我们首次将缺陷工程策略应用于团簇基晶体材料的制备中。结果，成功获得了4对全色发射和高g_lumCPL的缺陷晶体，这在团簇化学中很少被研究。通过表征，成功地将染料分子作为缺陷诱导剂掺杂到晶体中，染料的掺杂保留了团簇的分子结构和晶体的长程有序。

要点二：

值得注意的是，静电相互作用促进了缺陷晶体的形成，手性空间的限制作用和弱分子间相互作用使银(I)团簇和非手性染料分子之间能够进行有效的手性转移，从而组装出具有迷人CPL活性的新型团簇材料。

Scheme 1.阴离子染料分子与L-Ag₂₄的共组装示意图

图1. L-Ag₂₄-Na₂CF351、L-Ag₂₄-3-BSPDI、L-Ag₂₄-FL-Na和L-Ag₂₄-RB-Na的(a)固体漫反射光谱和(b)光致发光光谱。分别显示了样品在光场和紫外(λ=365nm)照射下的数码照片。

图2. L/D-Ag₂₄-Na₂CF351(a)、L/D-Ag₂₄-3-BSPDI(b)、L/D-Ag₂₄-FL-Na(c)和L/D-Ag₂₄-RB-Na(d)。的固体CD光谱。

图3. L/D-Ag₂₄-Na₂CF351(a)、L/D-Ag₂₄-3-BSPDI(b)、L/D-Ag₂₄-FL-Na(c)和L/D-Ag₂₄-RB-Na(d)。的固体CPL光谱。

参考文献：

Si Li, Xi-Yan Dong, Kong-Sheng Qi, Shuang-Quan Zang, and Thomas C. W. Mak. Full-Color Tunable Circularly Polarized Luminescence Induced by the Crystal Defect from the Co-assembly of Chiral Silver(I) Clusters and Dyes. J. Am. Chem. Soc. 2021, 143, 20574−20578